Spektroskopická elipsometrie tenkých vrstev a multivrstev pevných látek: Spectroscopic ellipsometry of ultrathin layers and multilayers : zkrácená verze Ph.D. Thesis

Eva Brandejsová

Našli jsme přes 300 podobných knih:

Jaroslav JirušeInvestigations of surface structures of materials by low-energy electron diffraction: Určování struktury povrchů materiálů metodou difrakce pomalých elektronů : short version of PH.D. Thesis

Jan ČechalAnalýza povrchů a tenkých vrstev využitím fotoelektronové spektroskopie: Surface and thin film analysis by photoelectron spectroscopy : zkrácená verze Ph.D. Thesis

Ladislav KalvodaVybraná témata z fyziky povrchů: vícevrstevné systémy a tenké organické filmy